로더
[X]

장비신청절차

1. '장비리스트' 메뉴에서 장비들을 확인하고 원하는 장비를 우측의 아이콘을 눌러 선택한다.

장비신청절차 1

2. 선택한 장비를 이후에 장비사용신청목록에 추가할지 여부를 선택한다.

장비신청절차 2

3. 추가 후 곧바로 장비사용신청을 진행할지 여부를 선택한다.('취소' 시 1번 단계의 작업 다시 진행 가능)

장비신청절차 3

4. 장비사용신청을 진행한다.
- 이용기간 : 이용할 기간을 시작일부터 종료일까지 선택한다.
- 이용시간 : 이용기간동안 몇시부터 몇시까지 장비를 이용할건지를 선택한다.
- 수행하고자 하는 작업내역 : 위의 장비들을 이용하여 어떠한 작업을 수행하고자 하는지 자세하게 작성한다.

장비신청절차 4

5. 작업 수행에 있어서 어떤 장비를 사용해야 할 지 모르는 경우
- 장비리스트와 장비정보 화면에서 장비들의 스펙을 확인 후 유사하다고 생각되는 장비들을 추가해준다.

장비신청절차 5


업체명
사용시간
업체명
사용시간
사용목적

스킵 네비게이션


서비스

글로벌 전문연구기관 GCTech

신뢰성장비

주사전자현미경

주사전자현미경

Scanning electron microscope(SEM)
시설장비 등록번호
20101019-140828-006
바우처 사용가능여부
가능
제작사명
세론 기술
설치장소
국제탄소연구소 1층 탄소복합재 신뢰성분석실
모델명
AIS 2000
장비담당연구원
이은숙 연구원(063-219-3733)
  • 장비설명

    ○ 전자총(gun)에서 나온 전자빔이 전자광학계를 거쳐서 진공챔버에 장착된 시료 표면을 스캔하고, 시료 표면에서 튀어나온 2차 전자를 검출기
    (SE 디텍터)에서 포집하여 이를 제어부를 통해 모니터 화면에 영상으로 구현함.
    - 일반 광학 현미경으로 관측이 어려운 나노-마이크로 단위의 물질의 미세구조를 분석
    - 성분분석장치(EDS)와 같은 옵션 디텍터를 장착하여 원소 성분 분석
  • 구성 및 기능

    ○ Resolution : 30 nm @ 30 KV
    ○ Magnification : 10 - Max 300,000배
    ○ Beam scan mode : Search, Inspection, Photo(3 step)
    ○ Accelerating voltage : 0.6 KV ~ 30 KV
    ○ EDS(Energy Dispersive Spectrometer)
  • 사용/활용 예

    ○ 물체의 미세구조와 Hardness, Reflectivity 등의 물성과 연관성 및 물체의 표면 형상 관찰 가능
    ○ Ductility, Strength, Reactivity 등의 물성과 물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기 관찰 가능
    ○ 물체를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 상대적인 양 분석 가능 및 재료 내 원자들의 배열상태 분석 가능
목록